1.
(2024高二下·海安月考)
金屬探測(cè)儀被各考場(chǎng)廣泛應(yīng)用,從而營(yíng)造了良好的考試公平環(huán)境。如圖甲為某一款金屬探測(cè)儀,探測(cè)儀內(nèi)部的線圈與電容器構(gòu)成LC振蕩電路,當(dāng)探測(cè)儀檢測(cè)到金屬物體時(shí),探測(cè)儀線圈的自感系數(shù)發(fā)生變化,從而引起振蕩電路中的電流頻率發(fā)生變化,探測(cè)儀檢測(cè)到這個(gè)變化就會(huì)驅(qū)動(dòng)蜂鳴器發(fā)出聲響。在LC振蕩電路中,某時(shí)刻磁場(chǎng)方向如圖乙所示,且電容器上極板帶正電,下列說法正確的是( ?。?p style="text-align:left;">
A . 此時(shí)電容器中的電場(chǎng)能正在減小
B . 此時(shí)線圈中的自感電動(dòng)勢(shì)正在減小
C . 此時(shí)電路中電流沿順時(shí)針方向且LC振蕩電路中電流減小
D . 若LC振蕩電路中的電感變小,其振蕩頻率也變小