1. (2023高二上·揚(yáng)州期中)  在半導(dǎo)體工藝?yán)锝?jīng)常需要測定金屬薄膜厚度，目前采用的方式是通過測定電阻而間接測得薄膜厚度，查詢資料獲知構(gòu)成該薄膜金屬材料的電阻率 ， 取一塊厚度均勻、邊長為L的正方形該金屬薄膜，在薄膜兩端施加恒定電壓。通過薄膜的電流方向如圖所示，測定出流過薄膜的電流I，即可推導(dǎo)出薄膜厚度d，則（　?。?p>