• 1. (2022高二下·珠海月考) 圖甲是用光的干涉法來檢查物體平面平整程度的裝置，其中A為標(biāo)準(zhǔn)平板，B為待檢查的物體，C為入射光，圖乙為觀察到的干涉條紋，下列說法正確的是（ ）

  

  A . 入射光C可采用復(fù)色光 B . 圖乙條紋是由A的下表面反射光和B的上表面反射光發(fā)生干涉形成的 C . 當(dāng)A、B之間某處距離為入射光的半波長奇數(shù)倍時，對應(yīng)條紋是暗條紋 D . 由圖乙條紋可知，被檢查表面上有洞狀凹陷