1. (2022·聊城二模) 如圖所示，某粒子分析器由區(qū)域I、區(qū)域Ⅱ和檢測器Q組成。兩個(gè)區(qū)城以垂直x軸的平面P為界，其中區(qū)域I內(nèi)有沿著z軸正方向的勻強(qiáng)磁場和勻強(qiáng)電場，區(qū)城Ⅱ內(nèi)只有沿著z軸正方向的勻強(qiáng)磁場，電場強(qiáng)度大小為E，兩個(gè)區(qū)域內(nèi)的磁感應(yīng)強(qiáng)度大小均為B。當(dāng)粒子撞擊檢測器Q時(shí)，檢測器被撞擊的位置會(huì)發(fā)光。檢測器中心在軸上，在檢測器所在平面上建立與xOy坐標(biāo)系平行的坐標(biāo)系。一質(zhì)量為m、帶電荷量為q的帶正電粒子從A點(diǎn)沿x軸正方向以初速度v₀射入，若區(qū)域I內(nèi)只存在勻強(qiáng)磁場，粒子軌跡圓的圓心恰好是O點(diǎn)，平面P到O點(diǎn)的距離 ，運(yùn)動(dòng)過程中粒子所受重力可以忽略不計(jì)。

1. （1） 求A點(diǎn)的位置，用坐標(biāo)（x，y）表示：
3. （2） 若區(qū)城I只有勻強(qiáng)電場E，當(dāng)檢測器Q置于平面P所在位置時(shí)，求檢測器上發(fā)光點(diǎn)的位置，用坐標(biāo)（，）表示：
5. （3） 當(dāng)檢測器距O點(diǎn)的距離為d時(shí)，求檢測器上發(fā)光點(diǎn)的位置，用坐標(biāo)（，）表示。